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簡要描述：鍍層作為保證電子行業產品質量可靠性和穩定性的主要工藝，其厚度是產品質量的最重要保證因素，因此，對鍍層厚度的質量控制/保證至關重要，X射線熒光（XRF）因為其非破壞性、測量快速、易于使用，已成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術。
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曉INSIGHT專為微光斑和超薄鍍層分析而設計，可提供極高的計數率，用于測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，并提供高精度的檢測結果，同時保持較短的測量時間，這借助于其內部采用高強度毛細管光學系統和高靈敏度的檢測器。幫助諸多的PCB、半導體等電子相關行業輕松應對超薄鍍層帶來的檢測挑戰，有效提高生產力，確保符合規范，以避免出現性能低下的風險以及與廢料或返工相關的成本。
使用優勢
多準直器組件
可選配多準直器組合自動切換，使得曉INSIGHT的多功能性得以顯著提升，以靈活應對不同尺寸的零件。
上照式設計
儀器采用上照式設計，可輕松實現對超大型、不規則、微小件、甚至液體形態樣品的快、準、穩高效測量。
高強度X射線管
曉INSIGHT可選配高強度毛細管光學系統，可為儀器帶來更高的計數率、 更小的點位測量，更薄的鍍層測量，有助于將儀器的分析效率翻倍。
可編程自動位移樣品臺
選配自動平臺，輕松實現自動測量，可以更快的準備和測量樣品，從而提高分析量。
一鍵式測量
配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓都可以測試樣品，僅僅需要點擊“開始測試”，數十秒即可獲得檢測結果啦。
提高生產力
曉INSIGHT自動化功能幫助您可以更快地測量樣品，從而提高您的分析量。
超大測量室
儀器殼體的開槽設計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復雜的大樣品。
高靈敏度的檢測器
對于復雜的鍍層結構，SDD系列檢測器更易分析具有類似XRF特征的元素，具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比），并且可以更精確地測量較薄鍍層。
自動對焦
無論樣品厚薄或大小如何，都可在幾秒鐘內自動對樣品進行對焦。可從遠至80毫米的距離測量樣品，非常適合測量具有凹陷區域的零件，或者適用于測量不同高度的多個樣品。
應用場景
|  連接器鍍層 |
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引線框架 |
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